An analytical model for read static noise margin including soft oxide breakdown, negative and positive bias temperature instabilities

نویسندگانB. Afzal-B. Ebrahimi-A. Afzali-Kusha-H. Mahmoodi
نشریهElsevier Microelectronics Reliability
شماره صفحات670-675
شماره سریال3
شماره مجلد53
نوع مقالهFull Paper
تاریخ انتشار2013
رتبه نشریهISI
نوع نشریهچاپی
کشور محل چاپهلند

چکیده مقاله

لینک ثابت مقاله