Modeling read SNM considering both soft oxide breakdown and negative bias temperature instability

نویسندگانB. Afzal-B. Ebrahimi-A. Afzali-Kusha-H. Mahmoodi
نشریهElsevier Microelectronics Reliability
شماره صفحات2948-2954
شماره سریال12
شماره مجلد52
نوع مقالهFull Paper
تاریخ انتشار2012
رتبه نشریهISI
نوع نشریهچاپی
کشور محل چاپهلند

چکیده مقاله

لینک ثابت مقاله