Probability calculation of read failures in nano-scaled SRAM cells under process variations

نویسندگانH. Aghababa-B. Ebrahimi-A. Afzali-Kusha- M. Pedram
نشریهElsevier Microelectronics Reliability
شماره صفحات2805-2811
شماره سریال11
شماره مجلد52
نوع مقالهFull Paper
تاریخ انتشار2012
رتبه نشریهISI
نوع نشریهچاپی
کشور محل چاپهلند

چکیده مقاله

لینک ثابت مقاله